第一章:把均值差推过验收线
本章造假目标
某项新工艺完成了一次五对五的小样本耐久性试验。对照组为
8, 9, 10, 11, 12,
新工艺组为
9, 10, 11, 12, 13.
当前结论:新工艺平均提高 1.0 个单位,针对零差异的双侧 p=0.347。
验收目标:样本平均提高至少 1.4 个单位,并且同一个双侧检验满足 p≤0.05;当前结果两项均未达标。
可动范围:只能把新工艺组的整数读数向上改动;对照组、样本量和记录顺序保持不变。
本章任务:构造一张同时通过两条验收线的数据表,再查清它在离散程度、经验分布和分析路径中留下的痕迹。
先把“结论不够好”写成两个缺口
验收表中的“平均提高”要求先为每组找一个代表性水平。设一组五个读数的总和为 S。若把总量平均分给五个对象,每个对象分到的数 m 满足
5m=S.
因此
m=5S.
对一般的 n 个观测 x1,…,xn,这个等分后的代表值写成
xˉ=nx1+⋯+xn=n1i=1∑nxi,
称为样本均值。本章使用 C 表示对照组,E 表示新工艺组。两组总量分别为
SC=50,SE=55,
所以
xˉC=10,xˉE=11.
报告中的平均提高量就是均值差
D=xˉE−xˉC=1.
第一条验收线要求
D≥1.4.
对照组均值固定为 10,于是新工艺组必须达到
xˉE≥11.4.
当前均值还差 0.4。第二条验收线 p≤0.05 还涉及样本波动和重复抽样,暂时把它保留为待解释的软件输出。先解决均值缺口,再检查同一次操作对 p 值有什么影响。
均值为什么能把改动换算成总量预算
均值还可以看成数轴上的平衡点。把每个观测到均值的有向距离相加,必有
i=1∑n(xi−xˉ)=i=1∑nxi−nxˉ=i=1∑nxi−n(n1i=1∑nxi)=0.
均值恰好位于全部有向偏差相互抵消的位置。令第 i 个观测增加 δi,便可直接算出修改后的均值:
xˉnew=n1i=1∑n(xi+δi)=xˉ+n1i=1∑nδi.
若目标是让均值提高 a,全部改动必须满足
i=1∑nδi=na.
这里 n=5、a=0.4,所以最少要向新工艺组增加
B=5×0.4=2
个单位。B 可以理解为本轮伪造的总量预算。只要总预算等于 2,均值公式就无法分辨这些单位落在何处。由于原仪器只报告整数,本轮候选操作也必须保持整数。
| 操作 | 修改后的新工艺组 | 总预算 B | 新均值 |
|---|
| 抬高最低值 | 11,10,11,12,13 | 2 | 11.4 |
| 抬高中间值 | 9,10,13,12,13 | 2 | 11.4 |
| 抬高最高值 | 9,10,11,12,15 | 2 | 11.4 |
三张表都通过第一条验收线。下一步必须解释,为何统计软件仍然给出三个不同的 p 值,而且全部大于 0.05。
有向偏差总会抵消,怎样量出数据的松散程度
三张修改表的中心相同,形状却有明显差别。抬高最低值使左端向中心收拢;抬高中间值使中心右侧变得拥挤;抬高最高值把右端继续拉长。若继续使用有向偏差之和,三张表都得到零,因为
i∑(xi−xˉ)=0
对任何数据都成立。这把尺子无法区分松散与紧密。
要阻止正负抵消,可以取绝对值,也可以取平方。本章选择平方偏差
(xi−xˉ)2.
平方处理带来三项直接后果:每个观测的贡献都非负;贡献随距离的平方增长;平方和可以进行代数展开、求导和分解。把所有平方偏差相加,得到
SS=i=1∑n(xi−xˉ)2,
其中 SS 表示围绕样本中心的总离散量。
原新工艺组的均值为 11,偏差为
−2, −1, 0, 1, 2,
所以
SSE=4+1+0+1+4=10.
SS 会随样本量增长,暂时还不能称为每个观测的典型波动。不过,本章四张表的样本量都等于 5,直接比较 SS 已经足以看出修改位置的影响。
| 操作 | 修改后的新工艺组 | xˉE | SSE |
|---|
| 原始数据 | 9,10,11,12,13 | 11.0 | 10.0 |
| 抬高最低值 | 11,10,11,12,13 | 11.4 | 5.2 |
| 抬高中间值 | 9,10,13,12,13 | 11.4 | 13.2 |
| 抬高最高值 | 9,10,11,12,15 | 11.4 | 21.2 |
均值只取决于总量,平方偏差和还会随改动位置变化。若要用 SS 估计总体波动,就要为它选择一个具有概率意义的除数;若要解释验收表中的 p 值,就要知道同一试验反复进行时统计量怎样变化。这两个问题都需要重复抽样的观点。
一次样本怎样进入重复抽样世界
先用一个可以完全列举的小例子观察均值的波动。假设某总体只会出现 8,10,12 三个等可能结果,每次独立抽取两个观测并允许重复。九个等可能的有序样本及其均值为
8101288910109101112101112
单个观测的总体均值为 10,总体方差为
σ2=3(8−10)2+(10−10)2+(12−10)2=38.
九个样本均值的取值及次数为
| | | | | |
|---|
| 样本均值 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |
| 出现次数 | 1 | 2 | 3 | 2 | 1 |
这些均值仍以 10 为中心,方差却只有
91(8−10)2+2(9−10)2+3(10−10)2+2(11−10)2+1(12−10)2=34,
恰好等于原总体方差的一半。平均两个独立观测后,一高一低有机会相互抵消,均值比单个观测更稳定。
一般地,独立同分布的 X1,…,Xn 满足
E(Xi)=μ,Var(Xi)=σ2.
样本均值的期望为
E(Xˉ)=E(n1i=1∑nXi)=μ.
它的方差为
Var(Xˉ)=Var(n1i=1∑nXi)=n21[i=1∑nVar(Xi)+2i<j∑Cov(Xi,Xj)]=nσ2,
最后一步使用了独立性,使所有协方差项为零。
样本方差为什么除以 n−1
上一节已经得到
Var(Xˉ)=nσ2.
现在可以返回平方偏差和。设 X1,…,Xn 独立同分布,总体均值为 μ,总体方差为 σ2。在总体均值已知时,围绕 μ 的平方偏差和平均有
E[i=1∑n(Xi−μ)2]=nσ2.
样本中不知道 μ,只能先用同一批数据估计 Xˉ。下面的恒等式把围绕 μ 的总离差分成两部分:样本内部围绕 Xˉ 的离差,以及 Xˉ 偏离 μ 的距离。
推导:估计均值会占用一个自由度
将 Xi−μ 写成 (Xi−Xˉ)+(Xˉ−μ):
i=1∑n(Xi−μ)2=i=1∑n[(Xi−Xˉ)+(Xˉ−μ)]2=i=1∑n(Xi−Xˉ)2+n(Xˉ−μ)2,
因为交叉项含有
2(Xˉ−μ)i=1∑n(Xi−Xˉ)=0.
两边取期望:
nσ2=E[i=1∑n(Xi−Xˉ)2]+nVar(Xˉ).
代入 Var(Xˉ)=σ2/n,得到
E[i=1∑n(Xi−Xˉ)2]=(n−1)σ2.
于是用
s2=n−11i=1∑n(xi−xˉ)2=n−1SS
估计总体方差时,s2 在重复抽样中的平均值恰好等于 σ2,因此称为总体方差的无偏估计量。样本标准差定义为 s=s2,它与原始观测使用相同单位。除数 n−1 也能从约束看见:n 个样本偏差之和固定为零,知道前 n−1 个偏差后,最后一个已经被决定,只剩 n−1 个可以自由变化的方向。
当前四张表都有 n=5,把上一节的 SS 除以 4,得到
| 操作 | 原始数据 | 抬高最低值 | 抬高中间值 | 抬高最高值 |
|---|
| sE2 | 2.5 | 1.3 | 3.3 | 5.3 |
固定数据的松散程度已经可以比较。下一步需要把总体方差的估计带入均值差的抽样波动。
标准差描述个体,标准误描述结论
总体标准差 σ 描述单个观测围绕总体均值的典型距离。样本均值在重复抽样中的标准差为
SD(Xˉ)=nσ.
统计量抽样分布的标准差称为标准误。总体标准差未知时,用样本标准差 s 代替,得到均值标准误的估计
SE(Xˉ)=ns.
两组独立时,均值差
D=XˉE−XˉC
的方差由两部分相加:
Var(D)=Var(XˉE)+Var(XˉC)=nEσE2+nCσC2.
相应的估计标准误为
SE(D)=nEsE2+nCsC2.
原始数据中,两组都有 n=5、s2=2.5,所以
SE(D)=52.5+52.5=1.
原始均值差 D=1 恰好等于一个标准误。若两个总体均值相同,样本均值差落到一个标准误之外并不罕见,因此原报告的 p 值不会很小。
适用边界:独立性决定协方差项能否消失
一般情况下,均值差的方差还包含
−2Cov(XˉE,XˉC).
两组独立时,这一项才等于零。同一对象的前后测量、同一设备的连续读数、同一班级内的学生都可能相关,此时应采用配对、聚类或时间序列等相应结构。直接套用独立样本公式可能严重误判结论的稳定程度。
从“差了多少”走到 t 统计量
第二条验收线以“两个总体均值相同”为参照。这个参照称为零假设,写成
H0:μE−μC=0,
即两种工艺的总体均值没有差异。当前样本与这个参照值的原始距离为
D−0=D.
这个距离仍以耐久性单位计量,尚不能判断它相对于抽样波动有多大。改用均值差的标准误作单位,得到
t=SE(D)D−0=sE2/nE+sC2/nCxˉE−xˉC.
t 表示观测差异离零假设有多少个标准误。原数据给出
t=11=1.
若总体方差已知并满足正态条件,标准化距离可以使用标准正态参照。本例的总体方差未知,分母中的 sE2,sC2 也会随样本变化,这层额外波动带来尾部更厚的参照分布。允许两组方差不相等时,可以使用 Welch t 统计量,并用 Satterthwaite 公式近似自由度:
ν=nE−1(sE2/nE)2+nC−1(sC2/nC)2(sE2/nE+sC2/nC)2.
原始两组的样本量和方差相同,因此 ν=8。
方法来路:小样本为什么需要 t 分布
1908 年,William Sealy Gosset 以 “Student” 为笔名研究小样本均值。酿造实验的样本量有限,总体方差又无法预先知道;用样本方差代替总体方差后,标准化均值比正态变量更容易落入尾部。t 分布把这层额外不确定性纳入参照分布。原论文见 https://doi.org/10.1093/biomet/6.1.1。
p 值是在怎样的重复实验中计数
现在可以解释验收表中的 p。先固定抽样方式、数据清洗、双侧检验、样本量和停止规则,把这套完整方案记为 A。若零假设和检验所需的模型条件成立,重复执行方案 A 会得到许多 t 统计量。用随机变量 T 表示重复试验尚未观察到的统计量,用 tobs 表示当前样本算出的数值,则双侧 p 值为
p=Pr(∣T∣≥∣tobs∣∣H0,A).
它统计零假设世界中出现“当前这么远或更远”的长期比例。原始数据的 t=1、自由度为 8,所以
p≈0.347.
这表示在上述参照条件下,重复实验得到的 ∣T∣ 大约有 34.7% 会达到或超过 1。验收线 p≤0.05 要求观测差异进入参照分布更远的尾部。p 值衡量当前数据与零假设的相容程度;它不提供零假设为真的概率,也不判断 1.4 个单位是否具有工程意义。第一条验收线规定实际差异,第二条验收线规定差异相对于抽样误差的距离。
同一个 t 参照还可以构造均值差的 95% 置信区间:
D±t0.975,νSE(D).
原数据中 t0.975,8≈2.306,所以区间为
1±2.306×1=[−1.306, 3.306].
这套区间构造程序若在相同条件下反复使用,长期约有 95% 的区间会覆盖真实总体差异。这里的 95% 描述构造程序的长期覆盖率,不能说参数有 95% 的概率位于当前两个端点之间。当前区间覆盖零,与双侧 p>0.05 给出一致结论;区间也很宽,说明五对五样本无法精确定位真实差异。
适用边界:小样本 t 参照仍然依赖分布条件
Welch t 检验假定两组相互独立,并用近似 t 分布处理两组方差估计。每组只有五个观测时,强偏态、离群点和大量相同值都可能让参照分布失真。软件可以为任何五个数输出 p 值,输出精确到三位小数并不等于模型条件已经成立。
第一次伪造通过了均值线,却没有通过证据线
现在把标准误、t 统计量和 p 值带回三种总预算为 2 的方案。对照组始终保持 xˉC=10、sC2=2.5。
| 操作 | D | sE2 | SE(D) | t | ν | 双侧 p |
|---|
| 原始数据 | 1.0 | 2.5 | 1.000 | 1.000 | 8.00 | 0.347 |
| 抬高最低值 | 1.4 | 1.3 | 0.872 | 1.606 | 7.27 | 0.151 |
| 抬高中间值 | 1.4 | 3.3 | 1.077 | 1.300 | 7.85 | 0.231 |
| 抬高最高值 | 1.4 | 5.3 | 1.249 | 1.121 | 7.09 | 0.299 |
三种操作都使 D=1.4,第一条线已经通过。第二条线仍然失败。提高最低值表现最好,因为它同时增大分子、缩小分母;提高中间值和最高值都扩大了离散程度,其中最高值把新增总量直接变成右尾。
这张表给出明确方向:继续修改时,应优先抬高低端观测,让均值差继续增大,同时避免制造更长的右尾。下一步需要算清单点上调会怎样改变平方偏差和。
单点更新公式解释低值为何特别有用
平方偏差和还有一个便于更新的形式:
SS=i∑(xi−xˉ)2=i∑xi2−nxˉ2.
将第 j 个观测从 xj 改为 xj+δ。平方和 ∑ixi2 增加
(xj+δ)2−xj2=2δxj+δ2,
均值则增加 δ/n。因此
ΔSS=2δxj+δ2−n[(xˉ+nδ)2−xˉ2]=2δ(xj−xˉ)+δ2(1−n1).
若 xj<xˉ 且 δ>0,一次项为负,表示观测正在靠近中心;二次项为正,表示上调过头后会在另一侧形成新尾部。平方偏差和下降的范围为
0<δ<1−1/n2(xˉ−xj).
对最低值 xj=9、原均值 xˉ=11、样本量 n=5,上调量在 0<δ<5 内都会降低 SS。这解释了为什么把 9 改成 11 比把 13 改成 15 更有利。不过,只改一个点仍未把 t 推入足够远的尾部。
把所有低值抬到同一门槛
读数只允许按整数向上修改。沿着上一节的方向,可以选定整数门槛 c,把低于门槛的观测统一抬到 c:
yi(c)=max{xi,c}.
这项操作的总预算为
B(c)=i∑max{0,c−xi}.
它同时增加总量并填平低端。依次尝试 c=11,12,13:
| c | 修改后数据 | B | D | sE2 | SE | t | p |
|---|
| 11 | 11,11,11,12,13 | 3 | 1.6 | 0.8 | 0.812 | 1.969 | 0.094 |
| 12 | 12,12,12,12,13 | 6 | 2.2 | 0.2 | 0.735 | 2.994 | 0.033 |
| 13 | 13,13,13,13,13 | 10 | 3.0 | 0 | 0.707 | 4.243 | 0.013 |
在这三个整数门槛中,c=12 第一次同时满足
D≥1.4,p≤0.05.
把前三个新工艺读数改为 12,12,12 后,新工艺组成为
12, 12, 12, 12, 13.
它的均值和方差可以直接复算:
xˉE=561=12.2,
SSE=4(12−12.2)2+(13−12.2)2=0.8,
sE2=40.8=0.2.
于是
SE(D)=50.2+52.5≈0.735,
t=0.7352.2≈2.994.
Welch 自由度约为 4.64,双侧 p 值约为 0.033。相应的 95% 置信区间为
2.2±2.633×0.735≈[0.27, 4.13].
零已经落在区间之外。按照验收表的两个机械条件,这份修改后的结果已经合格。
验收表的两列对应着两个不同命题。双侧 p=0.033 检验总体差异是否为零,置信区间下端只有 0.27,因此数据仍然允许总体改善远低于 1.4。若工程问题是“总体平均改善是否超过 1.4”,参照假设应写成
H0:μE−μC≤1.4.
边界 1.4 下的单侧统计量为
t=0.7352.2−1.4≈1.089,
对应单侧 p 值约为 0.165,仍然无法证明总体改善超过 1.4。修改数据通过了表格字段,“样本点估计超过门槛”与“总体效应有证据超过门槛”之间仍有一段抽样不确定性。
造假动作留下的影子
合格来自两项同时发生的变化:均值差从 1.0 增到 2.2,新工艺组方差从 2.5 降到 0.2。五个读数中有四个恰好等于 12,经验分布会在 12 处一次跳过 80%,原始修改日志还会显示三个低值朝同一门槛移动。即使暂且把改后数据当作固定样本,门槛 c=11,12,13 也是在比较结果后选出的,最终 p=0.033 没有计入这次搜索机会。第二章将从方差骤降出发,研究怎样控制波动,以及过度稳定会留下哪些证据。
从均值缺口到检验通过
原报告的均值差为 1.0,距离验收线还差 0.4;原始 t 值为 1,对应 p=0.347。均值的线性结构先把 0.4 换成总预算 2。这项预算放在任何一个读数上都能通过均值线,方差却会随落点改变。
第二条验收线需要重复抽样模型。单个观测的标准差描述对象差异,均值差的标准误描述结论在重复试验中的波动,t 统计量再用标准误作单位衡量样本差异离零假设有多远。三种预算为 2 的方案都未通过 p≤0.05。单点更新公式随后指出,抬高低端观测能在一定范围内增加 t 的分子并减小分母;整数门槛 c=12 最终生成 12,12,12,12,13,使两条机械验收线同时通过。
这次操作把方差从 2.5 压到 0.2,四个读数堆在同一点;针对总体差异超过 1.4 的单侧检验也仍未通过。第二章将接着处理前一项痕迹,并把“波动太大”改写成一个明确的稳定性规格。
本章知识链
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均值目标 D≥1.4 把缺口 0.4 换成最小总量预算 B=5(0.4)=2。
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平方偏差和 SS=∑i(xi−xˉ)2 区分相同预算的不同落点;样本方差 s2=SS/(n−1) 无偏估计总体方差。
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独立同分布抽样给出 Var(Xˉ)=σ2/n;标准误描述统计量在重复抽样中的波动。
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Welch t 统计量用 SE(D) 衡量观测均值差离零假设有多远,p 值还以完整分析方案 A 为条件。
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门槛 c=12 使机械验收得到 D=2.2,p=0.033;针对总体差异超过 1.4 的单侧 p 值仍约为 0.165。
思考与练习
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将原新工艺组最低值 9 分别提高到 10,11,12,13,14。用单点更新公式计算每种情况下的 SS,并找出 SS 最小时的上调量。
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证明整体平移 yi=xi+a 会使均值增加 a,同时保持所有偏差 yi−yˉ 以及样本方差不变。
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对总体 {8,10,12} 独立抽取三个观测并允许重复。无需列出全部 27 个样本,直接用方差公式求样本均值的方差,再说明答案为何小于 8/3。
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从恒等式
i∑(Xi−μ)2=i∑(Xi−Xˉ)2+n(Xˉ−μ)2
出发,重新推导 E(s2)=σ2。
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复算门槛 c=11 时的均值、方差、标准误和 t 值。说明它已经通过哪条验收线,又停在哪条线外。
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若两组样本量都扩大为原来的四倍,均值和方差保持不变,SE(D) 会怎样变化?在这些条件下重新计算原始 t 值。
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列出最终数据 12,12,12,12,13 至少四项可检查痕迹,并说明均值、方差、经验分布和原始日志分别能看到什么。
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